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【豪華講師陣容】第六波科技創新革命!! 2017太克創新論壇
發佈日期:2017/5/12

 Tektronix-2017-Invitation-by-Lockinc
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課程主題 A 課程內容 演講者
【主題演講】
趨勢分析: 100G / 400G數據中心發展與市場前景

本課程邀請光電元件領域傑出專家交通大學 郭浩中教授擔任主題演獎嘉賓。郭教授將介紹用於100G / 400G 數據中心的VCSEL和DFB Laser的內涵, 當前最熱門的矽光子學與OEIC, 以及光電市場趨勢與前景的精闢分析。

 

郭浩中 教授
【A-1】
快速的 100G/400G 數據中心互連除錯和驗證

驗證 100G (NRZ) 和400G (PAM-4) 數據中心的晶片和網路連結設計:全方位檢視 OIF-CEI 4.0 和 IEEE 802.3bs/cd/bm/bj 的當前和新興電氣規格。本課程會檢視 PAM-4 SNDR 和連結訓練分析,因為其涉及這些技術領域的除錯和驗證作業。對於正在 100G 和 400G 數據中心網路連結技術中尋找改善除錯技術方法的設計和驗證工程師而言,這將會是一個理想選擇。

 

Pavel Zivny & Eric Shen
【A-2】
輕鬆解決 100G/400G 的光學 PAM4 量測挑戰

400G 乙太網路由標準 802.3cd、802.3bs 的多種 IEEE 光學技術組成。這些量測技術仍處於早期的成長曲線上,本課程將協助設計師和測試工程師針對 400G 光學標準找出最有效的光學測試策略。在此課程中,工程師將瞭解如何在光學實體層中進行所需的量測,包括 TDECQ 評估技術。

 

Pavel Zivny & David Yang
【A-3】
克服 Type-C 序列標準 (如 USB、DisplayPort 和 Thunderbolt) 的 Tx/Rx 測試挑戰

Type-C 介面的引入及其在多個序列標準中的實作為設計和驗證工程師帶來了全新的測試挑戰,包括新的相容性通道要求、接收器迴路通訊協定感知、Alt 模式切換,以及相容性和認證處理。我們將探討 USB3.1、DisplayPort 1.4 和 Thunderbolt 3.0 標準的更新 (這些標準都會出現在單一的 Type-C 接頭上)。 本課程將深入瞭解 Type-C 介面的內容及如何在多種標準中使用,並討論所遇到的各種測試挑戰,以及探索能解決實體層發射器和接收器測試挑戰的可能解決方案。

 

Keyur Diwan
【A-4】
新一代 DDR4/LPDDR4 記憶體 的新特性分析技術

數據中心和行動/汽車應用將會變得越來越複雜,需要以更快的速度存取大量資料,這將趨使高效能記憶體介面 (如 DDR4 / LPDDR4 及更高版本) 的開發。我們將提供最新的特性分析和除錯技術的更新,以便能夠分析最高的 DDR4 / LPDDR4 速度等級 (DDR4-3200 / LPDDR4-4266)。瞭解可用於存取 DRAM 介面上訊號的新探測技術,以及 Tektronix 示波器上提供的各種工具,使您能夠快速擷取、識別、分析和分析記憶體介面特性。隨著標準的不斷發展,業界正考慮採用如決策回饋等化器 (DFE) 等新功能,本課程的最後將會從除錯和驗證角度來討論對下一代記憶體有何期待。本課程非常適合正準備處理下一代記憶體介面的記憶體驗證工程師。<

 

Darshan Mehta
【A-5】
PCI Express、SAS/SATA 的 Tektronix 儲存測試解決方案

您準備好測試下一代儲存裝置了嗎? 隨著如 PCI Express 和 SAS 等關鍵的儲存業界標準從第 3 代發展到第 4 代,全新的測試和除錯挑戰也隨之出現。由於電氣測試要求 (如連結等化、通道餘裕和前向糾錯 (FEC)) 出現,測試解決方案必須能夠相容、除錯和自動化,包括實體層和資料連結層。將儲存裝置或系統置入回路將會變得越來越具有挑戰性,特別是在訊號路徑中中繼器/重新定時器 IC 的使用日益增加時。在本次研討會中,處理 PHY 儲存介面量測的工程師將能從充分瞭解這些新出現的測試和除錯挑戰,並瞭解更多有關適用於 PHY 和通訊協定感知測試的 Tektronix 完整發送器和接收器測試儲存解決方案。

 

Joe Allen

課程主題 B 課程內容 演講者
【主題演講】
趨勢分析: 100G / 400G數據中心發展與市場前景

本課程邀請光電元件領域傑出專家交通大學 郭浩中教授擔任主題演獎嘉賓。郭教授將介紹用於100G / 400G 數據中心的VCSEL和DFB Laser的內涵, 當前最熱門的矽光子學與OEIC, 以及光電市場趨勢與前景的精闢分析。

 

郭浩中 教授
【B-1】
簡化複雜 IoT 設計和部署中的射頻測試

無論您是為可穿戴式設備、智慧型能源、工業應用、交通、建築或是家庭自動化等設備設計 IOT 裝置,您都將瞭解射頻電路中常遇到的 4 個關鍵的 IOT 設計挑戰:

  1. 驗證和疑難排解常見的無線連結,包括 802.11 a/b/g/j/n/ac、藍牙、LoRa、Zigbee、RFID 等
  2. 將天線與電路配對以達成最大功率傳輸
  3. 在進入試驗箱前針對主要監管標準檢查預相容性
  4. 對您設計中的干擾無線電進行疑難排解
Laurance Yeh
【B-2】
解決 IoT 功耗量測挑戰

到 2020 年前,連接到網際網路的設備預計將成長超過 200 億台,並且將繼續保持兩位數的成長率。這些裝置中有許多是可穿戴裝置、可攜式醫療裝置和電池供電的工業感應器/發射器。對於這些裝置,最大限度地延長電池壽命即至關重要。為了滿足電池壽命的設計要求,設計人員需要確定裝置所消耗的總功耗。設計人員需要在裝置的所有操作狀態下量測負載電流;其中包括非常低的電流 (例如當裝置處於其休眠模式時僅為微安培的電流),以及當裝置處於其有效操作模式時處於安培範圍內的電流。

此外,當裝置正在傳輸資料時,負載電流可能會是持續僅 10 微秒的短脈衝串。因此,需要高靈敏度和速度來擷取裝置在其所有操作狀態下消耗的所有功率。此外,電池的特性會影響裝置的效能,特別是在接近電池壽命或放電週期結束時。分析電池特性的一種方式是模擬電池,使得能在最真實的條件下執行裝置的測試。 本次研討會將:

  • 檢討在各種操作狀態下擷取整體裝置電流消耗的挑戰
  • 介紹電流量測選項,並提供卓越的解決方案
  • 為具有不良,良好的恆定電壓源 (電池) 的裝置供電提出挑戰
  • 引入可以在電池放電週期內模擬電池的來源,並在任何電池狀態下提供高效、可重複的裝置效能測試
  • 展示如何為任何類型的電池建立模型
  • 介紹評估電池壽命的方法與依據
Alan Ivons
【B-3】
滿足所有電源電子測試要求的完整解決方案

對提高電源效率的需求正在改變電子產品的設計方式......不僅是訊號和功率位準,甚至還包括如何管理和控制的複雜性。日常電子系統的設計和測試 (例如交流/直流電源供應器、電源轉換器和逆變器、LED 驅動器和行動產品) 均遵循一個明確定義的路徑,不論是挑選正確的組件,或是驗證最終組件的相容性。每個階段均受到最終效率要求以及高準確度測試和除錯策略需求的影響。

Tektornix & Keithley 解決方案對於每個開發階段都至關重要,並能使這些產品更快上市。探索 Tektornix 和 Keithley 業界領先的電源測試解決方案,以用於測試交流 - 直流、直流 - 交流和直流 - 直流電源轉換器。不論是電池供電的可攜式裝置,或是高功率轉換器和逆變器,皆可進行從 mW 到 MW 的準確功率參數量測作業。瞭解如何分析分立組件的特性、除錯類比和數位電路、測試切換、傳導和磁損耗、量測高共模隔離訊號、測試整體系統效率、量測滿載和空載時的交流 / 直流功耗,並瞭解相容性標準和預相容性測試。

 

Alan Ivons
【B-4】
VNA的各項應用與測試

向量網路分析儀可用於確定 S 參數被動式組件,包括電纜、濾波器、雙工器、天線等,以分析如功率放大器等主動式模組或其他許多模組的特性。您將瞭解使用 VNA 的 3 個關鍵應用:

  1. 通用 VNA 在大學的射頻實驗室中是必備的儀器之一。隨著工程師越來越需要具備射頻體驗,如何滿足在大學教室和實驗室中對 VNA 的需求?
  2. 由於形狀因素,許多物聯網客戶必須設計自己的天線,才能使用現成的無線模組。如何使用 VNA 完整分析天線的特性,以確保能傳輸最大的功率?
  3. 無線電力傳輸 (WPT) 可在空氣中傳輸電力,而不需使用承載電線。如何確保 WPT 系統中的電源轉移效率?
Zhang Chi
【B-5】
經典實測體驗營: 實機操作-電源/RF/史密斯圖(Smith chart)三大領域的量測體驗

本課程中您將搶先使用太克最新技術和產品,測量和體驗這些領域中的經典測試項目 快速且深刻了解電源產品的交換損失/漣波(ripple)量測, RF領域的EMI量測及濾波器的阻抗特性分析(Smith chart). 不管是現在或將來, 都可能會是您工作上的最佳量測經驗! (限30名, 額滿為止) 。

 

Laurance Yeh & William Wu

豪華講師陣容-各領域的技術專家!

特別邀請光電元件領域傑出專家交通大學 郭浩中教授擔任主題演獎嘉賓。
各領域的優秀技術專家目前正在與世界各地的客戶合作,解決尖端挑戰並實現創新。

AB-0
郭浩中, 國立交通大學 光電工程學系 特聘教授

郭浩中教授1990年獲得台灣大學物理系學士學位,並於1995年獲得美國Rutgers大學碩士學位,以及1998年獲得美國University of Illinois at Urbana Champaign大學博士學位。 郭教授回台擔任教職後的研究成果豐碩,並於2007年獲頒國家科學委員會吳大猷學術獎章(2006),獲頒發年輕學者研究傑出獎章 (OSA Taiwan) 以及傑出人才基金會研究傑出獎章(2007), 傑出電機工程教授獎 (2014) 。 郭教授於光電元件的研究成果獲多方肯定,除擔任IEEE Journal of Lightwave Technology期刊以及IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics期刊編輯外,更於2012年獲頒美國光學協會(OSA)會士以及國際工程學會(IET)會士,2013年獲頒國際光電工程學會(SPIE)會士,2015年獲頒美國電機電子工程師學會(IEEE)會士,研究成果斐然,至今共發表300篇以上知期刊論文,共獲引用達6438次,是光電元件領域的傑出研究學者。


 
A-1
Darshan Mehta, 記憶體技術專家

Darshan Mehta是Tektronix的DDR和快閃記憶體技術與解決方案小組的產品經理,擁有VLSI設計方面的碩士學位,並在測試和量測、VLSI設計和訊號完整性領域擁有超過十五年的經驗。在進入Tektronix工作之前,Darshan曾任職於Mentor Graphics和Agilent,擔任EDA領域的工作,並具備高速匯流排應用 (包括DDR記憶體實體層) 的訊號完整性相關專業知識。


 
A-2
Joe Allen, 伺服器/儲存領域專家

Joe 是 Tektronix 的伺服器/儲存部門主管,負責 PCIE、SAS 和 SATA 解決方案的產品行銷工作。Joe Allen 在高速序列資料通訊領域具有 20 多年的經驗。Joe 擁有美國密西根大學的電氣工程學士學位,並已在史丹福大學完成研究生等級的工程課程。曾任 IBM 的設計工程師,並在 JDSU 和 Semtech 擔任產品線經理,曾於光互聯網論壇 (OIF)、PCI Express、SASPHY/T10 和 SATA IO 等產業標準機構任職。


 
A-3
Alan Ivons, 訊號源專家

Al Ivons 是 Tektronix 的吉時利產品線的產品行銷工程師,主要支援 SourceMeter 儀器。 他擁有美國俄亥俄州克里夫蘭市約翰卡羅爾大學的理學學士和物理學碩士學位。 他在 2000 年加入 Keithley Instruments 之前,曾在 Northrup Grumman 工作了 22 年,擔任應用工程師,從事各種設計、製造和測試等工作。 在 Keithley 任職的前幾年,他為其所有桌上型儀器提供了一般的技術支援。 之後,他更加專注於高速自動化測試應用,並開發了與 Keithley 切換式產品和 SourceMeter 儀器相關的豐富專業知識。 今天,他已成為公認的 Keithley SourceMeter 專家之一。


 
A-4
Pavel Zivny, 光學資料通訊領域專家

Pavel Zivny 是 Tektronix 高效能示波器組的高速序列資料領域專家。在過去,Pavel 一直致力於高速示波器的測試、設計和架構,以及新產品規劃。 Pavel 擁有多個示波器相關專利,以及多篇論文和文章,並代表 Tektronix 和 T&M 參與產業專家顧問團和計劃委員會。他目前則熱衷於高速序列資料領域,包括等效時間取樣和即時示波器量測,以及使用 BERT 和碼型產生器的訊號產生。 Pavel 代表 Tektronix 參與 IEEE 802.3 (乙太網路) 標準機構,目前專注於 IEEE 802.3bs 和 802.3cd 中的 PAM4 50G/100G/200G/400G 技術開發。


 
A-5
Keyur Diwan, MIPI 領域專家

Keyur Diwan 目前在 Tektronix 擔任 MIPI 部門經理。他負責推動 MIPI 業務部門,專注於為行動市場構建解決方案。在加入 Tektronix 之前,Keyur 曾在 Wind River (Intel 子公司) 擔任過系統工程師、現場應用工程師和產品經理。其職業生涯中已有長達 8 年的時間,在現場為嵌入式系統和設計提供解決方案諮詢,而行動裝置即為其中之一。他熱衷於新技術,並喜歡動手操作產品。Keyur 擁有美國德州大學阿靈頓分校的電氣工程碩士學位,以及印度孟買大學的電子工程學士學位。


 
B-1
Laurance Yeh, 基礎儀器量測及通訊測試專家

葉志豪先生現任全球測試、測量和監測領域的領導廠商——太克科技經銷業務工程師,負責基礎型儀器的量測及通訊產品的測試,加入太克之前,曾擔任相關量測儀器測試部門的業務工程師,在測試領域的經驗已超過 10 年。


 
B-2
Chi Zhang, 射頻與微波專家

Chi Zhang 是 Tektronix 電源和分析儀產品線的業務開發經理,負責亞太地區的射頻與微波業務。2011 年,Chi Zhang 進入 Tektronix 負責產品管理和業務開發等職務。他擁有射頻測試與量測產業的強大背景和豐富的應用經驗。


 
B-3
William Wu, 電源量測專家

吳道屏先生現任太克科技公司業務部技術經理。台灣技術學院電子工程系畢業,擁有17 年的量測儀器產品行銷與應用經驗。現負責基礎示波器、視訊量測儀器及頻譜無線分析儀的應用技術支援。


 
B-4
David Yang, 高速電路/光通訊專家

楊雄偉先生為Tektronix 台灣應用工程經理。負責高速電路的量測及光通訊產品的測試。對外主導高速電路阻抗量測及電路的匹配特性的推廣,在高速光通訊的量測方面,提供量測及生產的解決方案,並得到諸多客戶的認同。


 
B-5
Eric Shen, 接收器測試專家

Eric在測試測量行業擁有超過14年的經驗。自2007年以來,他一直在Synthesys Research公司擔任BERTScope產品線亞太區應用工程師。在加入Synthesys Research前,他在一家測試測量公司工作,擔任銷售經理和應用工程師,其精通的測試測量儀器包括福祿克、羅德史瓦茲、NoiseKen、Keithely、Elgar、Polar、Microtest、力科、Qmax、等等。


 


 




 

 
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