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Keithley 9/21熱門應用技術論壇, IoT裝置、半導體測試一網打盡
發佈日期:2017/8/31

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課程主題 課程內容 演講者
【主題演講】
軟性電子元件的發展趨勢與應用

本課程邀請應用科學領域傑出專家中研院 朱治偉博士擔任主題演獎嘉賓,此演講將介紹有機軟性半導體材料的發展、有機材料設計、器件製造技術與應用。軟性電子產品的發展已經過了四十年,從開發由非常薄的單晶矽製成的柔性太陽能電池陣列到塑料基板上的柔性有機發光二極管顯示器。這一領域的快速發展受到大面積電子產品在平板顯示器,醫療圖像傳感器和電子紙等領域的不斷發展的推動。軟性電子元件比起一般電子元件於剛性基材更吸引關注,由於它們更為堅固、更輕、便攜、並且製造成本更低。軟性電子產品將在不久的將來提供高性能與低成本的電子產品。

 

朱治偉 博士
克服有機薄膜電晶體 (TFT) 的量測挑戰

目前業界正在廣泛研究有機材料和裝置所提供的優勢,並將其與目前可取得的常規無機材料和裝置相較。OFETS 正在逐漸用於穿戴式裝置、感應器和軟性印刷等領域。然而,同時也需要額外的特性分析來改善裝置效能和可靠性。 此課程將帶您瞭解分析有機材料和裝置特性的挑戰,以及如何執行準確的 I-V 量測。

 

Katie Wright
克服半導體裝置和材料的直流和交流量測挑戰

半導體的進步已產生更複雜的電子產品,目前業界更積極尋找替代的技術,以製造出更快、更小、更節能的裝置,超越現今半導體技術的限制。本課程將介紹直流電壓和電流量測與交流電容的秘訣和技巧,深入瞭解參數分析,有效節省時間並加快研究速度。

 

Katie Wright
採用平行測試進行半導體晶片級可靠性測試的優勢和取捨

日趨嚴格的汽車標準和行動裝置標準已明顯提升了可靠性測試中所需的樣本量。此外,系統單晶片 (SOC) 的更高層級整合意味著可能需要在單一產品晶片上進行更廣泛的測試。同時,有些可靠性測試需要更長的測試時間,這也意味著您需要一次便收集所需的資料。由於這些和其他原因,平行測試是對可靠性測試而言最有效和最實用的方法。但是,使用平行 WLR 時,您必須考慮幾個注意事項。此課程將帶您瞭解這些限制和克服的方法。

 

Horace Chen
IoT連接裝置功耗分析和電池建模與模擬方案

隨著物聯網的蓬勃發展,全球IoT裝置數量成長快速,明年將超越手機,未來3年,全球IoT裝置總數將累積高達300億。其中許多裝置將會是穿戴式裝置、可攜式醫療裝置和由電池供電的工業感應器/發射器。對於這些裝置而言,盡可能地延長電池週期使用時間是關鍵因素之一。為此開發人員需要瞭解裝置正在汲取的電源,還有在所有操作狀態下的總功耗,使其可以評估電池壽命。這些狀態包括睡眠和待機模式、感應器啟動和資料擷取、以及資料傳輸和接收,全部由電源管理 IC 和嵌入式微控制器驅動。其中讓人特別感興趣的是能擷取裝置的「功率曲線」,這需要具有寬動態範圍和高準確度的量測工具。另外,電池的特性也會影響裝置的效能,特別是在電池壽命或放電週期即將結束時。分析電池特性的方法之一是模擬電池,以便在最貼近現實的條件下執行裝置的測試。本課程將:

  • 回顧在所有操作狀態下擷取總裝置電流消耗的挑戰
  • 示範如何檢查任何裝置操作狀態下的平均功率及如何擷取快速電源脈衝組波形
  • 介紹使用不穩定的恆定電壓來源(電池)為裝置供電的挑戰
  • 介紹可在電池放電週期模擬電池的來源,並在任何電池狀態下提供高效、可重複的裝置效能測試
  • 如何為任何類型的電池建立模型與評估電池壽命的方法


 

Jonathan Chang

講師介紹

堅強講師陣容並特別邀請應用科學領域傑出專家中研院 朱治偉博士擔任主題演獎嘉賓

AB-0
朱治偉, 中央研究院應用科學研究中心 博士

朱治偉博士 1995年獲得私立中原大學化學工程學系學士學位,並於1998年獲得加州大學洛杉磯分校土木與環境工程系大學碩士學位,以及2006年獲得加州大學洛杉磯分校材料科學與工程系大學博士學位
經歷Experiences:

  • 美國德州Inteplast Group, Ltd, 資深工程師 (USA, 1998 Sept. -2002 Sept.)
  • 交通大學光電工程系,合聘助理教授 (Taiwan, 2006 Jul.-2010 Jan.)
  • 中央研究院應用科學研究中心,助理研究員 (Taiwan, 2006 Mar.- 2010 Jan.)
  • 美國西北大學材料科學與工程系,訪問學人(USA, 2010 Mar.-2010 Aug.)
  • 交通大學光電工程系,合聘副教授 (Taiwan, 2006 Jul.-2010 Jan.) (Taiwan, 2010 Jun.- 2014 May)
  • 中央研究院應用科學研究中心,副研究員 (Taiwan, 2010 Feb.-2014 May)
  • 美國加州大學洛杉磯分校材料科學與工程系, 訪問學人 (USA, 2011 Mar.-2011 Jun.)
  • 交通大學光電工程系,合聘教授教授 (Taiwan, 2010 Jun.- 2014 May)
  • 中央研究院應用科學研究中心,副研究員 (Taiwan, 2014 May-present)
  • 中央研究院應用科學研究中心綠色科技小組,執行長 (Taiwan, 2014 Jun.- present)
  • 中央研究院應用科學研究中心綠色科技小組,副主任 (Taiwan, 2016 Oct.-present)

 


 
A-1
Katie Wright, Senior Market Development Manager

Katie Wright是吉時利儀器的資深市場開發經理,專長領域為半導體、材料科學和電化學儀器。在擔任此職位之前,Katie曾在半導體和射頻測試設備市場陸續擔任過射頻設計工程師、產品經理和應用工程師,前後長達16年;曾參與各種產品的定義和引進,包括射頻功率錶、長距離揚聲裝置和參數分析儀。Katie擁有南達科達礦業及理工學院 (South Dakota School of Mines & Technology) 的電氣工程理學學士學位,以及佛羅里達理工學院 (Florida Institute of Technology) 的工程管理理學碩士學位。


 
A-2
Horace Chen, Senior Technical Consultant, Keithley Taiwan

陳思豪先生現任全球電性測試、測量和監測領域的領導廠商太克科技所擁有Keithley品牌部門資深技術顧問,負責SourceMeter、Parametric Curve Tracer等系統應用、整合、推廣、教育訓練以及售後技術問題的協助。陳思豪先生於2008年加入Keithley服務經已超過七年;同時已累積近20年在半導體, 平面顯示器, LED, Power 等相關領域的電性測試經驗,深入了解客戶在相關領域的測試需求。近年來主要專注的應用為Throughput Breakthrough for LED/SEMI Device Testing in Production Application, Parallel Device Parametric Testing for Device Modeling, Characterization and Reliability of GaN Power Device Test 和Thermal Transient Impedance Test with Electrical Approach. 陳思豪先生畢業於國立交通大學顯示科技研究所,取得碩士學位。


 
A-3
Jonathan Chang, Senior Technical Consultant, Keithley Taiwan

張志豪先生現任全球測試、測量和監測領域的領導廠商——太克科技所擁有Keithley品牌部門資深應用工程師,負責SourceMeter、精密儀測、高速多通道測量等系統應用及推廣,協助客戶跨越專業門檻,建立優化測試系統。加入太克之前,歷任光電及光通產業研發、生產測試等工程職務,因而累積豐富LD/LED相關的光性電性測試經驗。張志豪先生畢業於國立交通大學光電工程研究所,取得碩士學位。目前已經在太克/Keithley服務超過九年,持續提供客戶技術服務與教育訓練。


 




 
 
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