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Tektronix【電源量測技術論壇】2017/12/12 完整掌握電源量測的二三事
發佈日期:2017/11/23

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課程主題 課程內容 演講者
【特別演講】
探棒基本原理與實務剖析

本課程邀請應用科學領域傑出專家工研院陳俊仁博士擔任演獎嘉賓。探棒是連結待測物訊號至量測儀器的重要橋樑,也是量測系統中不可或缺的關鍵附件。在實務上,工程師往往會忽略掉其特性、規格而造成量測結果錯誤、待測物損壞、更甚至製造產品被客戶整批退貨而造成損失。市場上的課程往往都只有介紹探棒型錄的規格,而忽略掉其重要性。有鑑於此,我們特別設計了此課程,從基礎原理講解對應到實務造成的影響,是一門不可不聽的重要課程。
本課程將介紹:

  • 被動與差動探棒原理說明
  • 重要規格對實務量測造成的影響
  • 如何正確評估適用的探棒類型
  • CMRR的定義,如何影響量測結果
  • 使用被動與差動探棒量測同一信號造成差異的原因
  • 如何安全而正確使用探棒


 

陳俊仁 博士
工研院資訊與通訊研究所
前瞻混合訊號部
電源系統實用量測分析與技巧

隨著電源效率成為重要的設計標準,電子產品設計人員必須確保產品設計能符合新的 VI 級效能標準和 IEC 62301 待機功率要求。 此課程將帶您瞭解分析有機材料和裝置特性的挑戰,以及如何執行準確的 I-V 量測。一般測試方案利用示波器及電源分析儀作為基本儀器。但實務上由於設備的差異性及規格不同,了解不同測試儀器的最佳應用及使用技巧。方能構成完整的量測解決方案。選擇規格適合的示波器及探棒是很重要的。另外考慮多通道輸入彈性架構的示波器及12 位元類比數位轉換器(ADC) ,可實現前所未有的靈活性,並提高解析度更透徹電源小訊號詳細資料。單/ 多通道電源分析儀要方面評估是否提供足夠的量測項目、具備 16位元以上的類比數位轉換器(ADC) 、電壓和電流量測精準度值及最小待機功率量測能力。方可支援廣泛的應用如無線充電、LED 照明,與其他三相馬達分析等應用。另設備如能提供遠端控制軟體更可幫助工程師自動化儀器設定、資料收集、分析和產生報告。

 

William Wu
電源量測專家
高頻高壓浮動訊號量測與實務剖析

浮動或差動訊號隨著電源電路高壓高頻的應用愈來愈多,工程師量測面臨的挑戰也充滿更多的不確定性。使用傳統的差動式探棒來進行差動式量測,由於存在共模電壓或共模干擾的環境。探棒本身的頻寬不足、共模抑制能力不足、靈敏度不足會造成量測系統不準確。您的電源功率 MOSFET 和 IGBT (絕緣柵雙極晶體管) 裝置採用氮化鎵 (GaN) 和碳化矽 (SiC) 化合物半導體新材質嗎? 有直接觀察 High-Side柵極電壓波形的困擾嗎? 害怕直接量測浮動或差動訊號電路產生不利的影響?本課程,將能有效解決高頻高壓浮動訊號量測的困擾。

 

William Wu
電源量測專家
現今寬能隙功率半導體在晶圓級與封裝級的量測挑戰

功率半導體(Power Semiconductor)是實現節能和以高功率電子系統的重要基礎,為了成功地達到現今綠色能源計劃以及高功率應用的要求,功率半導體元件必須要符合對於更高的崩潰電壓(高達3KV)更低的漏電流(低至nA 或pA 位準)、更低的導通電阻(RDS(on) for mΩ, µΩ)等方面日益增長的性能要求。若要在這些要求上快速進行準確的量測,對設計 (Design)、製程 (Process) 、可靠度(Reliability)、量產(Production)工程師而言,則將須面臨各種不同的獨特挑戰。本講題主要在討論功率半導體DC電性量測技術在晶圓級與封裝級(e.g, Zthjc, SOA)等量測挑戰以及解決方案的建議。

 

Horace Chen
Senior Technical Consultant
交換式電源供應器的量測與驗證暨低成本 EMI 測試解決方案

交換式電源供應器理想上應如設計和數學模型運作。但實際上,元件並不會完全相同; 負載會變化、線路功率可能會失真、環境變化會改變效能。對提高效能、改善效率、縮小體積和降低成本的需求,讓電源供應器設計變得更為複雜。鑑於以上的設計挑戰,必須正確的設定量測系統,以精確擷取波形進行分析及疑難排除。在過去,描述電源供應器的反應,需使用數位萬用電錶量測靜態電流和電壓,並以計算機或電腦進行艱深的運算。今日,大部分的工程師偏好使用示波器來作為功率量測工具。本課程將針對示波器使用上如何正確地設定量測系統進行解說。

 

Laurance Yeh
基礎儀器量測及通訊測試專家

講師介紹

堅強講師陣容並特別邀請應用科學領域 工研院 陳俊仁博士 擔任主題演獎嘉賓

AB-0
陳俊仁, 工業技術研究院資訊與通訊研究所 博士

2001-2006 M.Sc. and Ph.D. in the Department of Electrical and Electronic Engineering, University of Bristol, UK
經歷:

  • 2017-now
    Manager of Automotive Electronics Design & Application Dept.
  • 2013-2016
    Manager of Advanced Analog & Mixed-Signal IC Design Dept.
  • 2006-2012
    Engineer in RF, Analog and Mixed-Signal Technology Division, SoC Technology Center

 

A-1
William Wu, 電源量測專家

吳道屏先生現任太克科技公司業務部技術經理。台灣技術學院電子工程系畢業,擁有17 年的量測儀器產品行銷與應用經驗。現負責基礎示波器、視訊量測儀器及頻譜無線分析儀的應用技術支援。


 
A-2
Horace Chen, Senior Technical Consultant, Keithley Taiwan

陳思豪先生現任全球電性測試、測量和監測領域的領導廠商太克科技所擁有Keithley品牌部門資深技術顧問,負責SourceMeter、Parametric Curve Tracer等系統應用、整合、推廣、教育訓練以及售後技術問題的協助。陳思豪先生於2008年加入Keithley服務經已超過七年;同時已累積近20年在半導體, 平面顯示器, LED, Power 等相關領域的電性測試經驗,深入了解客戶在相關領域的測試需求。近年來主要專注的應用為Throughput Breakthrough for LED/SEMI Device Testing in Production Application, Parallel Device Parametric Testing for Device Modeling, Characterization and Reliability of GaN Power Device Test 和Thermal Transient Impedance Test with Electrical Approach. 陳思豪先生畢業於國立交通大學顯示科技研究所,取得碩士學位。


 
A-3
Laurance Yeh, 基礎儀器量測及通訊測試專家

葉志豪先生現任全球測試、測量和監測領域的領導廠商——太克科技經銷業務工程師,負責基礎型儀器的量測及通訊產品的測試,加入太克之前,曾擔任相關量測儀器測試部門的業務工程師,在測試領域的經驗已超過 10 年。


 




 
 
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