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刷臉新世代3D感測應用將在2018 Tektronix 創新論壇技術大爆發!!
發佈日期:2018/5/11

課程主題 課程內容 演講者
【主題演講】
創新光通訊的研發與趨勢

現今光網路在不同環境和場景下對於增加傳輸數據容量的迫切需求促使光子元件和數據格式均快速發展。為因應高位元率需求實現高速數據分析,必須建立具有極頻寬和快速響應的新型測試平台以適應多功能網絡環境分析。台大-太克聯合研究中心因應最近出現的應用之不同需求構建了未來光網路測試中心,並致力於新穎數據格式訊號測試平台建置產生與分析下世代通信網絡所需高速NRZ / RZ-OOK、PAM-4 及 QAM-OFDM / DMT格式訊號,廣泛應用於光子元件和傳輸模組之高速和高頻寬之全面分析研究。

本演講介紹了台大-太克聯合研究中心所能提供的測試解決方案和系統,並針對包括光發射端和轉換元件應用於光通信的四個熱門研究主題介紹:

  • 400 Gbps 資料中心傳輸
  • 毫米波無線光纖通信
  • 可見光通訊
  • 矽光子全光格式轉換應用

 

NTU - Prof. Gong-Ru Lin
【A1】
100G/400G PAM4 與全新的光學解決方案

隨著 PAM4 全面投入生產和 400G 設計工作,工程師們在進行特性分析、驗證和除錯以及生產線測試時面臨了前所未有的測試挑戰。 全新 100G/400G 光學解決方案的深入討論不僅將有助於您加速產品開發,並能顯著地提升您的生產線測試效率。
 

  • 從研發到生產的 100G/400G PAM4 ─ 瞭解以Tektronix 解決方案如何實現從設計到製造工作流程的完美延伸。
  • PAM4 除錯和驗證 ─ PAM4 調變也帶來了各種驗證和除錯挑戰,以即時示波器為基礎的解決方案將可輕鬆解決這些挑戰。
  • 適用於 DSA8300 取樣示波器的新型光學模組 ─ 提供業界最高的靈敏度和最低的雜訊,不僅可為製造商提高生產能力,同時也能提高 400G 設計投入產量的信心。
  • 全新的軟體解決方案 ─ 推動設計發展,進而顯著改善下一代光學組件和互連產品良率,並透過全新的取樣和即時光學 PAM4 量測軟體進一步加速 400G 除錯和疑難排解程序。

 

Jim Dunford
【A2】
PCIe 第四代裝置的測試與除錯
由於雲端運算能力、儲存容量和網路頻寬的要求日益提升,伺服器/儲存產業正從 PCIe 第三代迅速發展至第四代,在不遠的未來甚至會發展至第五代。 而這種快速發展卻為基礎矽測試和 CEM 相容性測試帶來了全新的測試和量測挑戰。

在本次會議中,我們將會分享對於不同 PCIe 世代產品測試需求差異的深入見解。 我們也將討論在發射器 (Tx)、接收器 (Rx)、連結等化 (LEQ) 和鎖相迴路 (PLL) 測試中所面臨的挑戰。 具體而言,我們將會指出 PHY 和通訊協定感知測試中的挑戰。 另外,我們也將引入通訊協定感知 BER 測試器和示波器,來討論回路啟動和連結訓練的除錯程序。

 

Jim Dunford
【A3】
簡化您的 USB Type-C 設計驗證

由於市場對速度的需求不斷提升,使得 Type-C 接頭的多功能性也持續推動了產業的變革。 此一變革意味著現有的工具未能滿足對這些新設計進行特性分析、相容性測試和驗證的需求。 隨著業界推出越來越多的 USB Type-C 裝置,相關的市場規模一直不斷擴充。若能擁有可用於除錯故障的全方位工具,必將如虎添翼。

以下主題的相關深入討論將有助於簡化驗證作業,讓您的產品順利通過相容性測試,並對獲得認證的結果充滿信心。

  • USB 市場和 Type-C 接頭概述
  • 瞭解 USB 3.1 第一代和第二代規格
  • USB 發射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 的測試挑戰和解決方案
  • RX 測試的除錯回路啟動和連結訓練

 

Jacky Huang
【A4】
MIPI 發展 標準與簡化設計驗證程序

MIPI Alliance正持續發展相關標準,以滿足儲存設備產業、通訊協定、汽車標準等各種行動和行動影響裝置日益成長的需求。 隨著資料速率提升和通道延長,不論是訊號完整性或接收器等化均面臨了獨特的挑戰。

本次深入的討論將提供相關的技術見解,介紹如何利用 Tektronix MIPI 測試解決方案分析特性、除錯和驗證設計。 涵蓋的主要議題

  • MIPI PHY 概述: M-PHY、D-PHY 和 C-PHY
  • MIPI 與汽車產業標準
  • MIPI PHY 介面的目前測試和量測挑戰
  • 使用 Tektronix MIPI 解決方案進行發送器 (Tx) 測試和接收器 (Rx) 測試的概述

 

Swapnil Mane
【A5】
記憶體介面需要 RX 測試嗎? - 解密您對 DDR5 的驗證需求

DDR5 將提供比 DDR4 高一倍的頻寬和密度,同時提供更高的通道效率。 這些增強功能與伺服器和儲存平台的介面相結合,將能提供高效能和改善的電源管理功能。 DDR 介面在傳統上僅適用於 TX 介面。 然而,在更高的資料速率下,閉眼 (closed eye) 規格將會導致驗證和測試的複雜性。 本課程將協助您瞭解:

  • 目前正在開發的 DDR5 規格概述
  • DDR4 和 DDR5 有何區別?
  • 與 DDR4 相較,測試 DDR5 TX 所面臨的挑戰
  • 為何需要進行 RX 測試?
  • DDR5 RX 測試的複雜性和所需工具

 

David Yang
【B1】
適用於 3D 感應應用的 VCSEL/雷射二極體的基本電學量測

由於各種 3D 感應應用的數量不斷增加,不論是臉部辨識、手勢、汽車安全、自動駕駛車輛、遊戲和消費產品中的擴展虛擬實境,或是工業應用中的人機介面和機器人等等,也進而推動了光電子裝置 (如雷射二極體) 的開發和生產如火如荼地進行。在這些應用中,垂直共振腔面射型雷射 (Vertical Cavity Surface Emitting Laser,VCSEL) 是 3D 感應應用中使用的主要元件之一。與傳統的邊緣發射半導體相較,VCSEL 是一種半導體雷射二極體,其雷射光束會從頂面垂直發射。

本演講將著重介紹可用於 3D 感應應用的雷射二極體的 LIV 量測。 將探討與高度同步的脈衝測試相關的挑戰,以達成電氣量測效率和熱管理,並提升輸送量。 在本演講中,您將瞭解:

  • 為何在 3D 感應應用中使用雷射二極體
  • LIV 測試需要哪些量測參數以及這些參數為何如此重要
  • 使用同步脈衝測試來偵測和擷取光功率
  • 在開發 LIV 測試系統時,哪些情況可能會或將會出錯
  • 建議用於 LIV 測試的測試儀器

 

John Tucker
【B2】
加速裝置特性分析的技巧和訣竅

您的桌上型儀器是否擁有更多的附加價值,還是僅僅提供既有的相同功能和特性? 本次會議將討論桌上型儀器可用性的問題,並討論在您對工作空間進行現代化改造時應預期會發生的一些事情。 我們將回顧各種新功能/工具,說明如何增強您的一些常用量測功能。

John Tucker
【B3】
EMI 相容性測試、預相容性測試及量測法規

在設計週期的後期,若未能通過 EMI/EMC 測試,將須付出高昂的代價,但您可以巧妙避免這種情況 : 應用執行預相容性測試,來有效提升通過完整 EMI/EMC 相容性測試的可能性。 本課程將提供您: 了解EMI 相容性測試、進行預相容性測試的技巧及量測法規。使用經濟型儀器進行測試設定, 執行放射輻射量測和傳導輻射量測,可協助您有效減少產品通過EMI 認證所需的費用和時間。

Laurance Yeh
【B4】
化合物半導體技術所引領的變革與創新

現今電子電力元件多由矽作為主要的材料,在過去半世紀的研究中發現,矽材料已經逐漸達到物理限制瓶頸,替代矽之新材料也逐漸被發現,包含兩種或更多元素所構成之化合物,這種具有高潛力的半導體稱為「化合物半導體」,化合物半導體對現今半導體產業帶來多樣性發展及挑戰。 您將會在本課程中了解:

  1. 化合物半導體市場概述
  2. 主要應用 (例如:GaN 電晶體、SiC 電晶體、適用於 3D 感應的 VSCEL 陣列) 化合物半導體
  3. Keithley SMU 和 2600-PCT 的靜態直流測試
  4. 由 Keithley 3KV HVCV 和 Tektronix MSO5000 & Isovu 進行動態測試
  5. 透過 TSP 和 TSP-LINK 技術進行系統整合

 

Horace Chen
【B5】
經典實測體驗營:
示波器高解析應用/EMI測試/SMU IV測量/資料擷取萬用電錶等四大主題的量測體驗

本課程中您將搶先使用太克最新技術及產品,量測和體驗經典測試項目。快速且深刻瞭解示波器的高解析度模式如何協助您量測訊號的微小細節; RF領域裡實用的EMI疑難排解,讓您快速確認及量測EMI的干擾,並體驗全新EMCVu 量測軟體和搭配即時USB頻譜分析儀,輕鬆且快速地完成複雜的 EMI 測試;太陽能電池的IV測量是凸顯SourceMeter獨特特性(電源&負載)的經典案例,若您的工作會用到SMU,絕對值得您來體驗; 電路或測試中常需多組電壓、電流、電阻、溫度的複合測量,往往需要長時間的監控及記錄與軟硬體整合,本主題將帶您體驗如何輕鬆且快速地即時監控且分析資料完成複合量測。不管是現在或將來, 都可能會是您工作上的最佳量測經驗! (限50名, 額滿為止) 。

Laurance Yeh
William Wu
Jonathan Chang

講師簡歷
AB-0
林恭如, 國立台灣大學 光電工程學系 特聘教授兼所長

林恭如教授為臺灣大學光電工程學研究所教授,於2007年至2010年兼任光電所副所長,並於2013年起兼任光電所所長職務迄今,同時於今年(2015)獲選為台大特聘教授。林教授研究專長在光纖雷射、光纖通訊、以及奈米矽/碳光子學領域的基礎學理與工程應用。林教授的研究工作也因此獲得國際學術社群認識與推崇,也獲得許多高科技企業如台積電與中華電信之重視,曾與數家公司合作執行產學合作計畫並提供關鍵技術轉移。林教授在國際學術研究之能見度高也致力於各式學術活動事務,林教授自2004年起即為國際電機電子工程學會(IEEE)資深會員,於2013年榮獲中華民國電機工程學會傑出教授,且於2014年榮膺美國光學學會會士(OSA Fellow)。

林恭如教授現有光纖雷射通訊與奈米光電實驗室之研究領域寬廣,歷年來研究主題包括:可見光通訊/照明混成系統關鍵技術、毫米波光電子通訊信號處理技術、全光通信信號處理元件與系統、光纖通信用系統、元件與技術、高速光電量測系統與技術、半導體光電材料與元件。


 
A
Jim Dunford, 寬頻解決方案 產品行銷經理

Jim Dunford 目前擔任 Tektronix 寬頻解決方案部門的產品行銷經理,專職負責接收器測試產品和應用業務。Jim 於 2010 年初 Tektronix 收購 SyntheSys Research 公司 (擁有獲獎的 BERTScope 創新技術) 時進入 Tektronix 團隊,並在誤碼率測試應用、銷售、行銷和客戶支援方面擁有超過 20 年的經驗。在加入 SyntheSys Research 之前,Jim 曾在 DRS Technologies、Ampex 和通用汽車 (General Motors) 擔任過各種工程、工程管理和產品管理職位。


 
A
Swapnil Mane, 消費者市場行銷經理

Swapnil Mane 於 2018 年 3 月加入 Tektronix 團隊,擔任消費者市場行銷經理。Swapnil 擁有美國明尼蘇達大學 (University of Minnesota) 的電氣工程碩士學位,以及印度孟買大學 (University of Mumbai) 的電子工程學士學位,同時最近還完成了明尼蘇達大學卡爾森管理學院 (Carlson School of Management) 的工商管理碩士學位。他在 Broadcom Ltd 和 Intel Corporation 等半導體產業工作了 8 年,期間擔任系統整合工程師和產品開發/驗證主管,負責驗證 ARM 子系統和 IP (包括 L2/L3 Cache Controller 和 HBM Memories) 的嵌入式系統和設計。


 
A
John Tucker, 產品行銷工程師

John Tucker 是 Tektronix/Keithley Instruments 的產品行銷工程師,為 Keithley 電源量測設備 (SMU) 儀器產品系列提供支援服務。John 的量測專業知識包括半導體、光電子學、奈米科學、電化學和輻射劑量學等領域的專題,且已在 Tektronix/Keithley Instruments 工作超過 28 年,期間擔任過測試工程、應用工程、應用和支援經理以及產品管理等職位。John 擁有美國克利夫蘭州立大學 (Cleveland State University) 電氣工程學士學位和肯特州立大學 (Kent State University) 工商管理碩士學位。


 
B
Jacky Huang, 量測儀器技術部門,技術經理

黃芳川先生於2007年加入Tektronix 台灣分公司業務部門。在此之前,黃先生一直從事與電子量測相關領域的技術技援工作,在測試領域的經驗已超過 15 年。身為Tektronix 台灣的應用工程經理,黃先生負責串列高速電路的實體層量測及儲存媒體產品介面的測試。對外則主導串列高速電路量測系統的推廣,並對於在串列高速電路的量測方面提供量測及生產的解決方案,以幫助客戶快速導入其應用。


 
B
David Yang, 量測儀器技術部門,技術經理

楊雄偉先生於18年前加入Tektronix 台灣分公司業務部門。在此之前,曾擔任 ALCATEL 及 TAISEL 測試部門的工程師,在測試領域的經驗已超過 20 年。身為Tektronix 台灣應用工程經理,楊先生負責高速電路的量測及光通訊產品的測試。對外主導高速電路阻抗量測及電路的匹配特性的推廣,在高速光通訊的量測方面,提供量測及生產的解決方案,並得到諸多客戶的認同。


 
B
Horace Chen, Keithley部門資深技術顧問

陳思豪先生現任全球電性測試、測量和監測領域的領導廠商太克科技所擁有Keithley部門資深技術顧問,負責SourceMeter、Parametric Curve Tracer等系統應用、整合、推廣、教育訓練以及售後技術問題的協助。陳思豪先生於2008年加入Keithley服務經已超過七年;同時已累積近20年在半導體, 平面顯示器, LED, Power 等相關領域的電性測試經驗,深入了解客戶在相關領域的測試需求。近年來主要專注的應用為Throughput Breakthrough for LED/SEMI Device Testing in Production Application, Parallel Device Parametric Testing for Device Modeling, Characterization and Reliability of GaN Power Device Test 和Thermal Transient Impedance Test with Electrical Approach. 陳思豪先生畢業於國立交通大學顯示科技研究所,取得碩士學位。


 
b
Laurance Yeh, 經銷業務工程師

葉志豪先生現任全球測試、測量和監測領域的領導廠商——太克科技經銷業務工程師,負責基礎型儀器的量測及通訊產品的測試,加入太克之前,曾擔任相關量測儀器測試部門的業務工程師,在測試領域的經驗已超過 10 年。


 
b
William Wu, 業務部技術經理

吳道屏先生擁有十多年的量測儀器產品行銷與應用經驗。現負責無線射頻信號分析儀、視訊量測儀器及藍芽協定分析儀的應用技術支援。


 
b
Jonathan Chang, 資深應用工程師

張志豪(Jonathan Chang)先生現任全球測試、測量和監測領域的領導廠商——太克科技所擁有Keithley品牌部門資深應用工程師,負責SourceMeter、精密儀測、高速多通道測量等系統應用及推廣,協助客戶跨越專業門檻,建立優化測試系統。 加入太克之前,歷任光電及光通產業研發、生產測試等工程職務,因而累積豐富LD/LED相關的光性電性測試經驗。張志豪先生目前已經在太克/Keithley服務超過10年,持續提供客戶技術服務與教育訓練。張志豪先生畢業於國立交通大學光電工程研究所,取得碩士學位。


 




 
 
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