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【Keithley應用技術論壇2018.9.12】剖析3D感測與Micro LED兩大熱門焦點
發佈日期:2018/8/20

課程主題 課程內容
高功率 VCSEL 測試方法

集結低廉製造成本、高可靠性和高光學效率等優點,高功率垂直共振腔面射型雷射 (VCSEL) 日漸普及,並已廣泛應用於現有及新興應用,如通訊、3D感測、AR、車內感測和光達(LiDAR)遠端感測市場。於本次演講中,旺矽科技(MPI) 將分享有關 VCSEL於晶圓及封裝階段的LIV及雷射光束品質特性分析測試方案。

除探討各式不同的晶圓/封裝量測系統結構,針對不同的應用, 我們同時也將分享各種SMU搭配及量測方案, 並說明其於頻譜分析、遠場和近場量測結構上的光電學特性。最後,我們也將探討VCSEL未來測試上面臨的各種挑戰、發展潛力及趨勢。

3D 感測的量測挑戰與解決方案

由於各種 3D 感應應用的數量不斷增加,不論是臉部辨識、手勢、汽車安全、自動駕駛車輛、遊戲和消費產品中的擴展虛擬實境,或是工業應用中的人機介面和機器人等等,也進而推動了光電子裝置 (如雷射二極體) 的開發和生產如火如荼地進行。在這些應用中,垂直共振腔面射型雷射 (Vertical Cavity Surface Emitting Laser,VCSEL) 是 3D 感應應用中使用的主要元件之一。與傳統的邊緣發射半導體相較,VCSEL 是一種半導體雷射二極體,其雷射光束會從頂面垂直發射。

本演講將著重介紹可用於 3D 感應應用的雷射二極體的 LIV 量測。 將探討與高度同步的脈衝測試相關的挑戰,以達成電氣量測效率和熱管理,並提升輸送量。 在本演講中,您將瞭解:

  • 為何在 3D 感應應用中使用雷射二極體
  • LIV 測試需要哪些量測參數以及這些參數為何如此重要
  • 使用同步脈衝測試來偵測和擷取光功率
  • 在開發 LIV 測試系統時,哪些情況可能會或將會出錯
  • 建議用於 LIV 測試的測試儀器

 

PixeLED™ 顯示技術的展望與挑戰

錼創科技(PlayNitride Inc.)為國內發展次世代Micro LED顯示技術的關鍵領導廠商,這個主題將介紹目前技術的發展進程,除了可用於傳統的顯示應用外,更可以應用於各式的創新顯示技術上,將會對顯示產業帶來革命性的改變。

讓化合物半導體裝置的特性分析和量測變得更輕鬆

現今電子電力元件多由矽作為主要的材料,在過去半世紀的研究中發現,矽材料已經逐漸達到物理限制瓶頸,替代矽之新材料也逐漸被發現,包含兩種或更多元素所構成之化合物,這種具有高潛力的半導體稱為「化合物半導體」,化合物半導體對現今半導體產業帶來多樣性發展及挑戰,其中更高的崩潰電壓(高達3kV)更低的漏電流(低至nA 或pA 位準)、更低的電阻(mΩ, µΩ)等方面日益增長的性能要求。若要在這些要求上快速進行準確的量測,對設計 (Design)、製程 (Process) 、可靠度(Reliability)、量產(Production)工程師而言,則將須面臨各種不同的獨特挑戰。

本講題主要在討論功率半導體從電性量測、熱阻評價到可靠度技術在晶圓級與封裝級的量測挑戰以及解決方案的建議。

測量基礎介紹與經典實測體驗營:

DAQ6510多通道測量及資料擷取 /
SourceMeter 2450 IV實測體驗 /
極低電阻測試等三大主題的量測體驗

本課程包含了基本的測量基礎知識,並精選了太克/Keithley最新與最經典的測試項目體驗。

[DAQ6510多通道測量及資料擷取] 測試中經常需要多組電壓、電流、電阻、溫度等等的複合測量,還需要長時間的監控記錄與軟硬體整合。此主題將帶您體驗輕鬆愜意的即時監控,且能快速分析資料完成複合量測。

[SourceMeter 2450 IV實測體驗] IV曲線測量是凸顯SourceMeter獨特特性的經典範例,顛覆一般電源供應器加萬用電錶的測試體驗。

[極低電阻測試] 接觸電阻或(超)導體電阻測量經常是材料或元件分析上的難題之一,我們提供了特殊的設備與技巧來達成準確的測量。

講師簡歷
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林宏毅

旺矽科技 設備營運中心產品研發經理

林宏毅 (Hector Lin) 先生取得清華大學碩士學位,目前已於旺矽科技 (MPI Corporation) PA營運中心 (Photonics Automation Division) 擔任產品研發經理服務已超過十年。在此職位上,林經理負責領導產品開發方向並擬定全球銷售推廣策略,旺矽科技以客戶導向為核心經營理念、不斷開發最新科技及尖端製造技術,提供客戶最佳一站式的LED及光電量測解決方案,服務範疇囊括進階封裝測試 (例如 WLP、CSP、FOWLP、VCSEL、MEMS、PD、UV LED、LD、uLED) 至一般製造測試等應用領域。


 
A
周佩廷

錼創科技 資深經理

周佩廷博士畢業於國立台灣大學,現任職於錼創科技(PlayNitride Inc.),在此之前曾任職於工業技術研究院電子與光電系統研究所,並曾擔任美國國家標準暨技術研究院(NIST)客座研究員、國際照明委員會(CIE)技術委員會TC2-76主席、經濟部標準檢驗局電機工程國家標準技術委員等職務。曾獲得救國團社會優秀青年(2012)、中國電機工程學會優秀青年電機工程師(2013)、新竹市企業經理協進會傑出青年經理(2013)、全球百大科技研發獎(R&D 100 awards) (2014)等榮譽。


 
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Horace Chen

Keithley部門資深技術顧問

陳思豪先生現任全球電性測試、測量和監測領域的領導廠商太克科技所擁有Keithley品牌部門資深技術顧問,負責SourceMeter、Parametric Curve Tracer等系統應用、整合、推廣、教育訓練以及售後技術問題的協助。 陳思豪先生於2008年加入Keithley服務經已超過十年;同時已累積超過20年在半導體, 平面顯示器, LED, Power 等相關領域的電性測試經驗,深入瞭解客戶在相關領域的測試需求。近年來主要專注的應用為Throughput Breakthrough for LED/SEMI Device Testing in Production Application, Parallel Device Parametric Testing for Device Modeling, Characterization and Reliability of GaN Power Device Test 和Thermal Transient Impedance Test with Electrical Approach. 陳思豪先生畢業於國立交通大學顯示科技研究所,取得碩士學位。


 
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Jonathan Chang

Keithley部門資深技術顧問

張志豪先生現任全球測試、測量和監測領域的領導廠商——太克科技所擁有Keithley品牌部門資深應用工程師,負責SourceMeter、精密儀測、高速多通道測量等系統應用及推廣,協助客戶跨越專業門檻,建立優化測試系統。 加入太克之前,歷任光電及光通產業研發、生產測試等工程職務,因而累積豐富LD/LED相關的光性電性測試經驗。張志豪先生畢業於國立交通大學光電工程研究所,取得碩士學位。目前已經在太克/Keithley服務超過十年,持續提供客戶技術服務與教育訓練。


 




 
 
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